Ceramics-Silikáty 33, (3) 251 - 264 (1989)

Stratorefraktometrem lze změřit parametry povrchové tlakové difuzní vrstvičky skel zpevněných výměnou iontů, a to na rozdíl od obvykle polarizačně-mikroskopické metody na celých, nerozřezaných vzorcích libovolné velikosti. Článek shrnuje zkušenosti s měřením stratorejraktometrem. Z počtu a polohy interferenčních proužků pro 2 vzájemně kolmé směry polarizace dopadajícího světla je možné jednoduchým způsobem vypočítat trvale napětí na povrchu a tloušťku difuzní vrstvy. Podrobnějším matematickým zpracováním naměřených hodnot lze stanovit profil indexů lomu, dvojlomu a napětí napříč povrchovou difuzní vrstvičkou. Určené hodnoty napětí na povrchu jsou větší než hodnoty, naměřené polarizačním mikroskopem na příčných řezech, v poměru 1:0,57 resp. 1:0,56.